Dezvoltarea capacitatilor de analiza topografica si
compozitionala la scara nanometrica ale Laboratorului de
Caracterizare Microfizica al IMT Bucuresti

 

   

 

 

Obiective

  • amenajarea unui spatiu de lucru adecvat amplasarii platformei integrate SEM, cu satisfacerea conditiilor deosebite de izolare vibrationala, acustica si electromagnetica;
  • elaborarea unui studiu tehnico-economic detaliat referitor la achizitia unui FEG-SEM dotat cu module de adecvate tehnicilor analitice de determinari compozitionale;
  • achizitia, instalarea si efectuarea testelor de acceptare ale echipamentului;
  • obtinerea autorizatiei de securitate radiologica din partea CNCAN ( acreditare necesare echipamentelor ce utilizeaza fascicule ionizante);
  • redactarea unei pagini web dedicate echipamentului si includerea acesteia pe pagina de internet a Laboratorului de Caracterizare Microfizica al IMT Bucuresti;

 

   

webmaster

 

 
last update: 2 june 2009