Dezvoltarea capacitatilor de analiza topografica si
compozitionala la scara nanometrica ale Laboratorului de
Caracterizare Microfizica al IMT Bucuresti

 

   

 

 

Servicii:

Accesul la servicii:    
- gratis atunci când se face în cadrul unui proiect la care Institutul / Laboratorul este partener;    
- contra cost în celelalte cazuri;

Persoana de contact: Fiz. Adrian Dinescu

Program de acces: Luni-Vineri: 10.00-16.00

 

Cercetare

  • studii de materiale

Single wall carbon nanotubes (SWCNTs)


Silicon nanowires

 

  • Materiale si preparare probe


Etching of a thin Cr layer

  • Nanoprototying 


Nano-holes in PMMA. Applications in AFM tip characterization

  • Nanometrologie 


Length measurements performed on a test sample

  • Caracteriszare si testare dispozitive

Electrical test fixture for CNTs measurements

SAW device for microwave applications

INDUSTRIE

  • Metrologie la scara micro si nanometrica 


Chrome on glass photolithographic mash

  • Caracterizare nanoparticule 


Ag nanoparticles

  • Preparare probe

 
   

webmaster

 

  
last update: 2 june 2009