Servicii:

Accesul la servicii:
- gratis atunci cand se face in cadrul unui proiect la care Institutul / Laboratorul este partener;
- contra cost in celelalte cazuri;

Persoana de contact: Fiz. Mihai Danila ([email protected])

Program de acces: Luni-Vineri: 10.00-16.00

Sistemul Smartlab achizitionat utilizeaza tehnici de masura multiple:

1. Difractie de raze X la unghiuri mari (WAXRD) in diverse configuratii 1a.cu si 1.b. fara focalizare, 1c. cu si 1d.fara mononocromatizare, care poate fi cu reflexii multiple - 2,3,4, si/sau cu cristal analizor 2-4reflexii
2. Difractie de raze X la unghiuri mici SAXS,
3. Masuratori de reflectivititate de raze X -XRR,
4. Microdifractie (cantitati foarte mici de material investigat), mapare pe proba, analiza probelor cu suprafete neuniforme (neplanare) neregulate cu rugozitate mare;
5. Masuratori de tip rocking- curve pentru masurarea straturilor epitaxiale
6. Masuratori XRD in-plane si out of plane (medium resolution, high resolution, ultra high resolution, refelexie si/sau transmisie)
7. Asigura realizarea aproximatiei undei plane monocromatice cu o intensitate maxima a fascicolului de radiatii X pe proba concomitent cu micsorarea proportionala a timpului afectat unei masuratori, aliniere automata a opticii si a probei, o gama diversificata de module optice performante (optionale) de mare impact: oglinda multistrat, tub raze X de 9kW, detector ultrarapid DTEXUltra, si respectiv monocromatoare si cristale analizoare de inalta rezolutie cu reflexii multiple.

Se pot investiga si caracteriza nedistructiv (morfologie, structura, faze, dimensiuni de cristalit, distributie si densitate electronica, densitate si tip de defecte, tensiuni si deformari) materiale avansate, solide si/sau lichide, cristaline sau amorfe, anorganice sau organice, structuri multistrat, straturi subtiri, nanomateriale, etc.